KWGD-VI型 液體沖擊試驗箱

KWGD-VI型 液體沖擊試驗箱適用于金屬,塑料,橡膠,電子元器件等材料行業(yè)，用于測試材料在瞬間下經(jīng)較高溫及較低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,測試其材料進(jìn)行高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境下檢驗其各項性能指標(biāo)。

冷熱沖擊特點

1.主要是做高溫，低溫的試驗設(shè)備。

2.特殊性能表現(xiàn)：可瞬間從高溫到低溫、或低溫到高溫的轉(zhuǎn)換

速率，只需要10秒可從高溫150℃轉(zhuǎn)換至低溫-70℃，恢復(fù)時間5

分中以內(nèi)完成，這就是冷熱沖擊試驗箱的轉(zhuǎn)換速率的表現(xiàn)。

其溫度的轉(zhuǎn)換時間短變化快以形成對產(chǎn)品的溫度沖擊，在瞬間到

極其高溫及極其低溫低溫的連續(xù)環(huán)境下產(chǎn)品所能忍受得程度，在

短時間內(nèi)試驗其產(chǎn)品因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，

確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)。

支持多種規(guī)格尺寸定制

KWGD-VI型 液體沖擊試驗箱符合標(biāo)準(zhǔn)：GJB150.5A-2009jun，用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化GJB 360A-96 環(huán)境試驗:方法107 溫度沖擊試驗GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A:低溫GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫GBT10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件GBT11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件規(guī)格BS EN 2591-323-1998 電氣和光學(xué)連接元件，溫度沖擊試驗GJB150.5-1986 jun。用設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗GJB797.4-1990 地雷爆。po器材環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗HB5830.10-1984 機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件及試驗方法 溫度沖擊試驗WJ1743.4-1987 1301滅火瓶

規(guī)格                  150L          250L            500L

工作室尺寸（mm） 500×500×600   500×600×700    900×800×700

外形尺寸（mm）  900×1000×1500  1350×950×800  1750×950×180

 功率                 10KW         12KW          15KW

提籃尺寸（mm）     200×200       300×300        350×350

溫度范圍      -50℃ ~150℃

沖擊方式     提籃上下移動

溫度波動度   ≤±0.5℃

溫度均勻度   ≤2℃

溫度轉(zhuǎn)換時間  從低溫到高溫、從高溫到低溫≤15秒

溫度恢復(fù)時間  ≈5min(與樣品質(zhì)量有關(guān)）